当前位置: 首页 > 技术支持 > 晶振知识 > 正文 Aging test(老化测试): OCXO 20MHz 作者:晶诺威科技 时间:2025年09月07日 浏览量:90 Aging test(老化测试): OCXO 20MHz Sample number: 5 pieces Sample-1 Sample-2 Sample-3 Sample-4 Sample-5 标签:20MHz晶振, Frequency Aging, OCXO恒温晶振, 晶振老化 上一篇: Test data for OCXO 10 MHz 晶振料号9XG10M3H 下一篇: OCXO 20MHz temp test(温测数据) 5pieces 推荐产品 SMD5032-LVDS LPN-OSC3225 2×6