晶振知识
  • 如何确定晶振负载大小?
    2024-04-25
    如何确定晶振负载大小? 答:晶振负载的大小通常由晶振厂家确定,可以在晶振数据手册中找到。一般来说,晶振负载大小与晶振频率和电路环境有关,需要根据具体的应用场景(参考IC手册)进行选择。 举例: 若8MHz晶振负载电容CL=20PF;32.768KHz晶振负载电容=12.5pF,晶诺威科技建议匹配电路…
  • What is an active or passive crystal oscillator?
    2024-04-24
    What is a crystal oscillator ? Some electronic devices require an AC signal with a highly stable frequency, while the LC oscillator has poor stability…
  • 26MHz车规晶振SMD3225温测:频率及电阻变化数据
    2024-04-22
    晶诺威科技产26MHz车规晶振SMD3225测试数据如下: 测试参数设置: 常温:+25℃ 负载:15pF 精度:±10ppm   晶诺威科技产26MHz车规晶振SMD3225温测数据如下: 测试温度:-40~+85℃ 1、晶振频率变化(PPM)vs 温度(Temperature) 2、晶…
  • 晶振FDLD不良是什么原因造成的?
    2024-04-18
    晶振FDLD不良是什么原因造成的?晶诺威科技解释如下: FDLD解释 MaxF~MinF,在指定功率驱动晶振时所测得的(频率最大值~频率最小值)频率差值,FDLD越小越好。 FDLD不良原因 在晶振制造过程中如果受到环境污染,所测得FDLD值就会偏高,FDLD不良会导致晶振频偏超差或时振时不振现象发…
  • 晶诺威科技无源贴片晶振SMD3225电气参数测试说明(英文版)
    2024-04-17
    晶诺威科技无源贴片晶振SMD3225电气参数测试说明(英文版)说明如下: MAIN ELECTRICAL SPECIFICATIONS 1. Nominal Frequency 2. Oscillation Mode 3. Load Capacitance 4. Frequency Toleranc…
  • AEC-Q200车规晶振可靠性测试说明(英文版)
    2024-04-17
    AEC-Q200车规晶振可靠性测试说明(英文版) RELIABILITY SPECIFICATIONS (Conforms to AEC-Q200) Measurement condition Electrical characteristics measured by S&A250B or…
  • 贴片晶振回流焊作业指导
    2024-04-16
    建议贴片晶振回流焊作业(SMD products Reflow profile)如下:  
  • CMOS输出有源晶振电流功耗说明(含输出使能及待机功能)
    2024-04-16
    关于有源晶振电流功耗说明(含输出使能及待机功能),晶诺威科技举例如下: 方波(CMOS)输出有源晶振主要电气参数 *1 Frequency tolerance includes initial frequency tolerance, temperature variation, supply vo…
  • 为什么石英晶体谐振器和石英晶体振荡器不能摔?
    2024-04-14
    为什么石英晶体谐振器和石英晶体振荡器不能摔? 答:跌落可能会造成内部晶片破碎。石英晶片很薄,例如25MHz的晶片,其厚度约为0.0668mm,这种厚度使其脆弱,易受损。 49S与49U晶振内部的石英晶片如下: 圆柱晶振内部音叉型石英晶片如下:
  • 晶振电路和时钟电路一样吗?
    2024-04-12
    晶振电路和时钟电路一样吗? 晶振电路是时钟电路的一种常见形式,但并不是所有时钟电路都是晶振电路。时钟电路是产生像时钟一样准确运动的振荡电路,任何工作都按时间顺序,用于产生这个时间的电路就是时钟电路。它一般由晶体振荡器、晶振控制芯片和电容组成,应用十分广泛,如电脑的时钟电路及电子表的时钟电路。 晶振电…
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