引发晶振电阻跳变原因之一:晶片不良放大图

引发晶振电阻跳变原因之一:晶片制程不良

  • 晶片不良区域

引发晶振电阻跳变原因之一:晶片不良放大图

  • 晶片不良区域经更大倍数放大后,显示边缘残缺。

引发晶振电阻跳变原因之一:晶片不良放大图

分析及结论:

石英晶片是石英晶振的核心部件,当晶振(包括石英晶片)制程发生不良,如出现晶片残缺、晶片平滑度不达标、镀银前晶片洁净度不达标、镀银工艺不达标、镀银后晶振内部洁净度不达标(其中包括微尘颗粒数及水分子含量)等,均可造成晶振在高低温工作状态下,发生电阻不稳定,如电阻突然跳变(主要是晶振电阻增大至晶振停振或不起振),进而造成系统紊乱,设备死机等不良现象。

晶诺威科技生产制造严格执行全程在超净化高标准环境下进行并完成,并已分别通过ISO9001、ISO14001、TS16949等相关体系认证,所生产的晶振产品品质严格符合国际IEC和美国ANSI标准。

引发晶振电阻跳变原因之一:晶片不良放大图

(晶诺威科技车间图)

电话:0755-23068369