关于DLD2不良导致晶振休眠原因，分析如下：

DLD2 英文为Drive Level Dependency。为在不同的功率驱动晶振时，所得之最大阻抗与最小阻抗之差。

DLD2越小越好，当晶振制程受污染时，则DLD2值会偏高，导致时振与时不振现象，即 “晶振休眠”。好的晶振不会因驱动功率变化而产生较高的阻抗差异，从而最终造成质量异常。

（DLD2不良：石英晶片异物图）

晶振 DLD不良，集中反映在晶振使用过程的大多数不稳定状况。比如：用仪器测试是合格的，但使用时发现不能工作、加热或给一外界激励后工作，但过一段时间后停止工作、最要命的是生产出来的整机在生产线上检测完全合格且 QA检验合格，但在终端用户使用时却发现不能工作。因此，选择合格晶振产品至关重要。