晶诺威产超高精度恒温晶振OCXO 10MHz产品特征：
- 尺寸：36.1*27.2*15mm、36.1*27.2*13mm、
- 低老化，小型封装
- 高精度，高稳定性及高可靠性
- 应用：SDH/SONET、 ATM、WLL COMPASS及测试系统
超高精度恒温晶振OCXO 10MHz特性参数
| 型号 | GO36 GO36L |
| 封装 | GO36(36.1×27.2×15mm)、GO36L（36.1×27.2×13mm) |
| 频率范围（MHz） | 10.000MHz |
| 频率准确度 | ±2×10-7(at中心电压 2.5V) |
| 频率温度稳定度（SC切） | ≦5×10-9 |
| 工作温度范围 | -10~70℃ |
| 短期稳定度 | ≦1×10-11/s |
| 输出和负载特性 | 方波，高电平>2.4V 低电平<0.4V |
| 老化 | ≦5×10-10/day,
First year:≦±3×10-8ppm, 10 years:≦±3×10-7 |
| 负载频率稳定度 | ±5×10-10 vs ±5% for 5% change from 15pf |
| 电压频率稳定度 | ±5×10-10 vs ±5% voltage change |
| 控制电压范围 | 0~5V 中心电压 2.5V |
| 斜率 | Positive |
| 调整频率范围 | ≧±5×10-7 |
| 压控线性度 | ≦ 10% |
| 工作电压 | 5.0Vdc |
| 功耗（开机电流） |
开机时:700mA(max), 稳定工作时:250mA(max) @25 ºC |
| 开机时间 | <5min ±1×10-8 |
| 相位噪声 | 10HZ, -125dBc/HZ |
| 100HZ, -135dBc/HZ | |
| 1KHZ, -150dBc/HZ | |
| 10KHZ, -155dBc/HZ | |
| 工作温度范围（℃） | -10℃~70℃ |
| 储存温度范围（℃） | -40℃~85℃ |
超高精度恒温晶振OCXO 10MHz环境测试
| 随机振动 | 符合 GJB360A-电子及电器元件试验方法, 方法 214，试验条件 I 中A，加速度谱密度2(m/s2 ) 2 /Hz，总均方根加速度值 53.5m/s2，
试验时间：每个方向 5 分钟，共 15 分钟 |
| 冲击 | 符合 GJB360A-电子及电器元件试验方法,
方法 213，试验条件B, 峰值 750 m/s2 标称脉冲时间 6ms,每个方向 3 次 |
| 引出端强度 |
符合 GJB360A-电子及电器元件试验方法, 方法 211 的规定。试验条件 A，负荷为 10N |
超高精度恒温晶振OCXO 10MHz测试电路
在频率控制器件制造领域，超高精度及超高稳定性技术属于要求苛刻的尖端设计。针对恒温晶振OCXO，如有产品需求或技术支持，请联系我司官网客服或拨打直线0755-29493800。
