关于有源晶振测试电路及测试条件的说明

关于有源晶振测试电路及测试条件的说明
以晶诺威产SMD 3225贴片有源晶振(CMOS输出)为例:

  • #1脚为OE功能端,三态功能的开关。
  • #2脚GND为接地端。
  • #3脚Output为频率输出端。
  • #4脚Vdd是工作电压输入端。

在电路设计焊接中,为了稳定运行,建议在Vdd和GND之间连接0.01μF至0.1μF的旁路电容,并尽可能靠近Vdd引脚。

关于有源晶振测试电路及测试条件的说明

(有源晶振测试电路)

关于有源晶振测试电路测试条件说明如下:

关于有源晶振测试电路及测试条件的说明示波器

  • 带宽应至少比测量频率宽5倍。
  • 探头地线应紧贴测试点,引线长度应尽可能短。
  • 建议使用微型插座。(不要使用接地线)。

关于有源晶振测试电路及测试条件的说明 L_CMOS包括探头电容。

关于有源晶振测试电路及测试条件的说明 在靠近器件的Vdd和GND引脚之间应连接一个0.01μF至0.1μF的旁路(bypass)电容。

关于有源晶振测试电路及测试条件的说明 请使用低阻抗电流表。

关于有源晶振测试电路及测试条件的说明电源Power Supply

  • 电源启动时间(0 %VCC → 90 %VCC)应超过150 μs。
  • 电源阻抗应尽可能的低。
电话:0755-23068369