晶振49S/49SMD封装DLD不良可能引发晶振不稳定问题

晶振49S/49SMD封装DLD不良可能引发晶振不稳定问题

关于晶振49S/49SMD封装DLD不良可能引发晶振不稳定问题,晶诺威科技解析如下:

作为研发并制造石英晶体谐振器的专业厂家,我们就是要为客户提供质优价廉的可靠产品。但实际上经常还会有些产品在电路应用中出现故障,主要症状为三个:

晶振49S/49SMD封装DLD不良可能引发晶振不稳定问题频偏

晶振49S/49SMD封装DLD不良可能引发晶振不稳定问题停振

晶振49S/49SMD封装DLD不良可能引发晶振不稳定问题不稳定

晶振产品在客户端一旦出现问题,客户就会要求我们尽快分析原因,提出解决方案。客户最担心的是产品可靠性引发疑虑,这时就需要我们对晶振电路应用及晶振单体进行数据分析。总之,只有找到真正的Root cause,问题才能根除,否则不良现象会重现。

通常导致晶振49S/49SMD频偏主要有以下三方面:

晶振49S/49SMD封装DLD不良可能引发晶振不稳定问题石英晶体负载电容不符

晶振49S/49SMD封装DLD不良可能引发晶振不稳定问题电路负载电容与石英晶振负载电容差异太大

晶振49S/49SMD封装DLD不良可能引发晶振不稳定问题石英晶振常温频差超出了规范值

晶振49S/49SMD停振一般有以下三方面:

晶振49S/49SMD封装DLD不良可能引发晶振不稳定问题石英晶体电阻值大,超出振荡电路负阻要求。

晶振49S/49SMD封装DLD不良可能引发晶振不稳定问题石英晶片破裂

晶振49S/49SMD封装DLD不良可能引发晶振不稳定问题石英晶体温度特性差,在某个工作温度点出现跳变。

对于49S/49SMD封装的晶振在电路中呈现出“不稳定”情况,几乎每个晶振厂家都遇到过。随着晶振产品的小型化和电子整机的低功率要求,目前晶振激励电平都在uw级,也就是说流经晶振的电流多在微安级,这就要求晶振的 DLD 特性(激励电平相关性)要好,要能满足电路低激励要求。

什么是DLD特性?

DLD即激励电平相关性:是晶体元件谐振电阻随激励电平条件变化的效应。一般来说AT切晶体的频率会随激励电平的增大而略有升高,而谐振电阻随激励电平的增大而降低。

关于DLD测试的解释:

DLD2:在激励功率范围内,最大电阻与最小电阻的差,即RRmax-RrminRLD2:在激励功率范围内的最大电阻,即RRmax;

FDLD::在激励功率范围内,最大频率与最小频率的差,即FLmax-FLmin;

晶诺威产网关专用晶振49S/49SMD 25MHz 15PF ±20PPM主要电气参数

  • 标称频率 Nominal Frequency: 25.000MHz
  • 振荡方式 Oscillation Mode: Fundamental(基频)
  • 封装类型 Holder Type: HC-49US-DIP/HC-49US-SMD
  • 调整频差 Frequency Tolerance: (+25℃±3℃) ±20PPM
  • 温度频差 Frequency Drift (-20 ℃~ +70℃): ±20PPM
  • 工作温度范围 Operating Temperature Range: -20℃ ~+70℃
  • 仓储温度范围 Storage Temperature Range: -40℃ ~ +85℃
  • 等效电阻 Equivalent Resistance: <25 ohms.
  • 绝缘电阻 Insulation Resistance: 500 Mohm Min/D.C 100V
  • 负载电容 Load Capacitance: 15 pF
  • 静电容 Shunt Capacitance: 5.0 pF max.
  • 激励功率 Drive Level: 10uw Typical.
  • 振动试验 Vibration Test: 10 to 55 Hz (1.5mmp-p, lhr)
  • 年老化率Aging Rate a year:<2ppm

附:晶诺威科技晶振49S/49SMD封装 25MHz 15PF 20PPM常温测试数据如下:

晶振49S/49SMD封装DLD不良可能引发晶振不稳定问题

 

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