关于仪表晶振不良导致时间不准或不走的问题，晶诺威科技解释如下：

在包括仪表在内的各类电子设备中，负责时间功能是频率为32.768KHz的晶振。不管这颗晶振属于无源晶振还是有源晶振，如果发生晶振品质不良或合格晶振应用不当，都会导致时间不准或不走（时间无显示）。

如何确定晶振不良？

请把不良品晶振交给供应商进行单体电气参数测试。这就如同我们进医院检查身体，血压、心跳、脑电图等数据出来了，和正常数据对比，就清楚自己是不是真病或病到哪里了。
针对32.768KHz晶振，需要测试的关键电气参数包括：Frequency（频率）、Frequency Tolerance（频差）、Shunt Capacitance（静电容）、Equivalent Series Resistance（等效阻抗）、Drive Level（激励功率）、Load Capacitance（负载电容）等。

关于32.768KHz晶振电路应用问题

如果晶振测试数据正常，那就是32.768KHz晶振在电路板应用中出现了问题。32.768KHz这个频点在无源晶振方案中问题频发，主要体现在负载匹配。当发现仪表时间不准或不走时，请核对芯片手册对晶振负载电容的要求（如CL=12.5pF还是9pF）。如果负载电容选择正确，请进一步检查晶振外接电容是否与之匹配，电路板杂散电容是否有考虑在内？

最后需要提醒的是，32.768KHz无源晶振内部通常为音叉型石英晶片，其物理特性是易碎，因此请严格遵循“小心轻放”原则。如果晶振遇到跌落、碰撞或超声波清洗工序，内部晶片有可能破裂，造成无频率输出，导致时间不走。

补充：

如果芯片已内置LDO，确保了RTC电压供应正常，请检查晶振电气参数是否匹配，如负载电容。

LDO

LDO的全称是Low Dropout Regulator，即低压差线性稳压器。LDO是一种线性电压调节器，其特点是能够在输入电压与输出电压差较低的情况下仍保持稳定输出电压。相比传统线性稳压器，LDO具有更低的压差需求，从而提升效率并减少能量损耗。其基本结构通常包括基准电压源、误差放大器、分压取样电阻网络和功率晶体管，通过负反馈控制实现稳压输出 。

LDO广泛应用于工业设备、MCU、传感器、射频芯片以及便携式电子设备中，为电路提供稳定电源 。其优势在于结构简单、噪声低、响应快速，尤其适合对电源波动敏感的模块。根据功率晶体管类型，LDO可分为PMOS型、NMOS型和传统PNP/NPN型，在选型时需考虑压差、电流能力、输出电压精度和噪声等参数。