深圳市晶诺威科技有限公司
首页
产品中心
晶体谐振器
晶体振荡器
32.768KHz晶振
温补振荡器
恒温振荡器
差分振荡器
低相噪晶体振荡器
车规级晶体
热敏晶体(TSX)
展频晶振
技术支持
晶振知识
解决方案
应用指南
品质保障
品质管控
品质体系
可靠测试
环保报告
新闻资讯
晶振资讯
科技前沿
环境保护
产品应用
互联网&智能穿戴
手机
汽车电子
网络通信
5G通信
电脑&消费类电子
云存储&服务器
关于我们
公司简介
合作伙伴
厂区概况
发展历程
企业文化
无冲突矿产承诺
联系我们
低频振动实验
当前位置:
首页
>
标签归档: 低频振动实验
晶诺威科技49SMD封装晶振4MHz可靠度测试数据
(49SMD晶振4MHz产品图片) 晶诺威科技49SMD封装晶振4MHz可靠度测试数据,整理如下: 测试项目:自由跌落 测试设备:跌落台,30mm厚硬木板,250B 测试条件:从75cm高自由跌落至30mm厚硬木板上,跌落3次。 测试数据如下: 测试项目:低频振动 测试设备:振动测试台…
时间:2022/08/04
版权所有 © 2025 深圳市晶诺威科技有限公司 粤ICP备11048232号
电话咨询
在线咨询
微信咨询
top
电话:0755-23068369
扫码立即咨询
电话咨询
在线咨询
返回顶部