有源晶振测试数据

  • 1.2V供电低功耗OSC3225有源晶振25MHz规格参数介绍
    晶诺威科技产1.2V供电低功耗OSC3225有源晶振25MHz主要参数如下: Nominal Frequency: 25MHz GNW P/N: 10G25MGL1B Frequency Tolerance vs Temperature: <±20ppm Operating Temperatu…
    时间:2024/05/07
  • 有源晶振的1号脚可以接高电平吗?
    有源晶振的1号脚可以接高电平吗? 答:可以。针对1号脚为三态(Tri-state)的有源晶振,其具备使能/禁止输入功能,该功能需要通过设置1号脚来实现。 当为1号脚提供高电平(>70%Vdd)或悬空(不连接电路)时,晶振输出振荡信号; 当为1号脚提供低电平(<30%Vdd)或接地(GND)时,晶振无…
    时间:2024/03/23
  • 如何测量晶振频率?
    如何测量晶振频率? 答:在给电路板上电后,可以使用频率计数器或示波器来测量晶振频率。针对晶振单体测试,则需要专业的测试仪器,如250B等。
    时间:2024/03/20
  • 晶振电气参数有哪些?
    晶振分为无源晶振和有源晶振两大类: 一、无源晶振(晶体谐振器)电气参数: 需求方提出的基本参数要求: 标称频率:Frequency 负载电容:CL 等效阻抗:Rr (ohms) 频率温度特性:TC (Relative to 25℃) 其它要求:工作温度范围、C0、C1等 需要由供方控制的参数: 频率…
    时间:2023/10/20
  • 晶振测试项目都有哪些?
    晶振测试项目都有哪些? 晶振性能参数测试的目的是通过评估晶振的各项指标,确保其满足设计要求。关于关键性能参数测试方法,晶诺威科技介绍如下: 1、负载电容测试 负载电容是晶振在特定电路条件下的电容负载。测试负载电容时,需要使用LCR表测量晶振两端的电容值,确保它与设计规格相符。 2、驱动电平测试 驱动…
    时间:2023/09/30
  • 晶振24MHz型号、封装尺寸及使用说明
    关于晶振24MHz型号、封装尺寸及使用说明,晶诺威科技介绍如下: 晶振24MHz包含石英晶体谐振器(无源晶振)和石英晶体振荡器(有源晶振)两大类,而晶体振荡器又包括高精度温补晶振TCXO等。 一、在24MHz无源晶振方面 (24MHz贴片式无源晶振SMD3225) 晶诺威科技产24MHz贴片式无源晶…
    时间:2023/07/04
  • 常见晶体振荡器工作原理,输出类型及测试电路
    关于常见晶体振荡器工作原理,输出类型及测试电路,介绍说明如下: 晶体振荡器由于其优良的稳定性,被广泛应用于通信、测量、时钟、控制器件等需要高精度频率输出的领域。随着对频率稳定度的要求越来越高,在许多场合,选用晶体振荡器比选用晶振谐振器更好,因为只要给晶体振荡器供电就能获得高稳定度的频率输出。这里我们…
    时间:2023/05/26
  • CMOS输出10MHz高精度石英温补振荡器TCXO DIP14规格及参数
    (TEST DATA FOR TCXO-DIP14-10MHZ-5V) 关于CMOS输出10MHz高精度石英温补振荡器TCXO DIP14规格及参数,晶诺威科技介绍如下: MAIN ELECTRICAL CHARACTERITICS主要电气参数 标称频率Nominal Frequency: 10.0…
    时间:2022/09/20
  • 无源晶振12MHz/16MHz与有源晶振24MHz测试数据对比
    晶诺威科技无源晶振12MHz/16MHz与有源晶振24MHz测试数据 无源晶振SMD3225 12M 12PF ±10PPM测试数据如下: 无源晶振SMD3225 16M 12PF ±10PPM测试数据如下: 有源晶振OSC3225 24M 3.3V ±20PPM测试数据如下:
    时间:2022/06/21
  • OSC7050有源晶振封装尺寸与规格参数介绍
    晶诺威科技产品OSC7050晶振为贴片式有源晶振,具备高稳定性及高精度特性,在耐环境方面也有良好表现。主要应用领域有服务器、网络通信、数码家电、工厂自动化、工业探测等。 (晶诺威科技OSC7050有源晶振产品图) OSC7050有源晶振封装尺寸 体积:7.0x5.0x1.4mm OSC7050有源晶…
    时间:2020/11/20
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