温补晶振测试数据

  • 40MHz压控温补晶振VC-TCXO晶振料号1XTV40000MCA
    (40MHz压控温补晶振VC-TCXO晶振测试电路) 40MHz压控温补晶振VC-TCXO晶振(1XTV40000MCA)电气参数说明如下: 品牌:KDS 产品系列: DSA321SDN 标称频率:40.000000 MHz 封装尺寸:3225_4P(3.2 x 2.5 mm) 工作温度:-30℃ …
    时间:2026/10/12
  • 晶诺威科技产30.72MHz温补晶振TCXO7050使用说明
    晶诺威科技产30.72MHz温补晶振TCXO7050使用说明如下: 主要参数: 晶振型号:高精度温补晶体振荡器 TCXO7050 标称频率:30.720000MHz 初始频率精度:±0.5ppm 频率温度稳定度:±1.0ppm 工作温度范围:-40~+85℃ 输出波形:CMOS方波 工作电压:3.3…
    时间:2026/09/23
  • 125MHz高精度温补晶体振荡器TCXO-0914 正弦波输出
    (True Sine Wave/正弦波) 晶诺威产125MHz高精度温补晶体振荡器TCXO-0914规格说明如下: 主要参数 标称频率:125.000MHz 尺寸:14.65×9.35×4.0mm 频率准确度:≤±1ppm @25±5℃ 频率温度稳定度:≤±2ppm (-40℃to +85℃) 供电…
    时间:2026/09/06
  • 国产低相噪晶体振荡器:OCXO恒温晶振和TCXO温补晶振
    关于晶诺威科技产低相噪晶体振荡器OCXO和TCXO,介绍如下: 晶振的相位噪声是衡量信号纯净度的核心指标,数值越小越好(如-165dBc/Hz优于-155dBc/Hz)。你可以根据系统对近端(如1kHz)或远端(如10kHz)相噪的具体要求来选择。在低相噪表现方面,OCXO恒温晶振明显高于TCXO温…
    时间:2026/06/26
  • VC-TCXO7050压控温补晶振50MHz–CMOS输出测试数据
    晶诺威科技产VC-TCXO7050压控温补晶振50MHz--CMOS输出测试数据如下: 主要参数: 晶振型号:VC-TCXO7050 晶振料号:05VTG50MG3E 频率:50MHz 输出类型:CMOS方波 工作电压:3.3V 温度稳定性: ±1ppm 工作温度范围:-40~+85℃ 压控范围:0…
    时间:2026/06/19
  • 晶振测试数据:CMOS 8MHZ TCXO-DIP8 ±0.25PPM
    Test data for CMOS output 8MHz TCXO-DIP8  ±0.25PPM as below:
    时间:2025/03/13
  • 10MHz温补晶振TCXO-DIP14测试数据
    (晶诺威科技产10MHz温补晶振TCXO-DIP14测试数据) (晶诺威科技产10MHz温补晶振TCXO-DIP14产品图)
    时间:2024/09/11
  • CMOS输出10MHz高精度石英温补振荡器TCXO DIP14规格及参数
    (TEST DATA FOR TCXO-DIP14-10MHZ-5V) 关于CMOS输出10MHz高精度石英温补振荡器TCXO DIP14规格及参数,晶诺威科技介绍如下: MAIN ELECTRICAL CHARACTERITICS主要电气参数 标称频率Nominal Frequency: 10.0…
    时间:2022/09/20
  • 晶振的相噪与抖动Phase Noise and Jitter
    晶振的相噪与抖动Phase Noise and Jitter解释如下: 一个晶振在某一偏移频率处的相位噪声定义为在该频率处1 Hz带宽内的信号功率与信号总功率比值。 定义相位噪声是从能量角度来说的,指单位带宽内的功率与总信号功率的比,单位是dBc/Hz,所谓的单位带宽,是指偏离理想频点的单位带宽。 …
    时间:2021/09/09
  • 不同晶振及晶振电路产生的相位噪声phase noise原因及分析
    关于不同晶振及晶振电路产生的相位噪声(phase noise)原因,晶诺威科技分析如下: 在低噪声晶振设计中,电路是非常重要的环节,振荡电路应该要使晶振的有载Q值不致下降很多,并且电路附加的噪声要足够小。 有源晶振常见的类型为普通晶振XO,温补晶振TCXO,恒温晶振OCXO,他们之间直观的不同,就是…
    时间:2021/08/09
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