晶诺威科技24MHz晶振匹配测试报告

测试环境及设备：

环境 :

在室温25°C+/- 3°C和湿度50～70% Rh开放环境下进行测试

测试设备：

– 晶振测试 : S&A 250B 测试系统

– 板上测试 : 测试探针 Tektronix P6243/TCP1000

电流探棒 Tektronics TCP0030

示波器 Tektronix TDS3032

频率计 Agilent 53131A

电源 HP E3631A

频谱分析仪 Agilent N9320A

（板子照片）

板上晶体信息：

X1： 24 MHz， ±10 PPM, 40 Ω ，12 pF，SMD2016 ，4pin

Y1：24 MHz， ±10 PPM, 40 Ω ，12 pF ，SMD 2016 ，4pin

晶振电路：

使用 S&A 250B 系统测试晶振本体参数:

晶振上板测试数据及分析结果：

R1: 串联等效电阻 (Ohms) L1:电感 (mH)
C1:动态电容 (fF)
C0: 静态电 (pF)
CL:负载电容 (pF)
FL:频偏值 (ppm)
TS:牵引力 (ppm/pF)

结论：

X1/Y1板子 晶振 在板测试频率与晶振本体频率偏差较小， 小于7ppm，符合频偏匹配设计要求；

X1/Y1板子晶振频偏测试合格。