晶诺威产晶振35.328MHz频率Pulling(拉伸)测试数据

晶诺威产晶振35.328MHz频率Pulling(拉伸)测试数据

针对一些具备信号接发功能的射频类(RF)电子设备,需要晶振具备一定裕度的频率拉伸能力。若晶振频率拉伸能力不能满足设计要求,则容易造成数据信号收发故障。

所谓拉伸能力,是指晶振在外部电容变化的情况下,频率(相对中心频率)的偏移程度,即:PPM/PF。从逻辑上讲,射频设备信号发射端的晶振频率拉伸能力小于信号接收端。需要指出的是,拉伸能力并不是越小越好,或者越大越好。具体拉伸指标应该基于芯片方案对晶振的该参数要求,或者由充分测试验证所得。

如某射频设备芯片对晶振的规格要求如下:

  • 中心频率Center Frequency:35.328 MHz
  • 封装尺寸Size: SMD3225
  • 负载电容Load Capacitance(CL):18PF
  • 拉伸值Pulling:150 ppm(12~32PF)
  • 调整频差Frequency Tolerance (at 25±3℃): ±20 ppm
  • 频率稳定性Frequency Stability : ±30 ppm
  • 工作温度Operating Temperature:-40~85℃
  • 静电容Shunt capacitance(CO):7pF max.
  • 年老化率Aging: ±3.0 ppm max.

晶诺威科技产无源贴片晶振SMD35.328MHz测试数据如下:

晶诺威产晶振35.328MHz频率Pulling(拉伸)测试数据

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