当前位置: 首页 > 技术支持 > 晶振知识 > 正文 无源晶振SMD3225 12M 12PF ±10PPM常规参数及温度测试数据 作者:晶诺威科技 时间:2022年06月22日 浏览量:2488 晶诺威科技无源晶振SMD3225 12M 12PF ±10PPM常规参数及温度测试数据如下: 测试设备:250B 1、晶诺威科技无源晶振SMD3225 12M 12PF ±10PPM常规参数测试数据(测试参数包括:FL,RR,C0,C1,DLD2,FDLD,RLD2,SPDB,Q,TS,DLDF,SPUR,etc.) 2、晶诺威科技无源晶振SMD3225 12M 12PF ±10PPM温测数据(FREQUENCY vs TEMPERATURE TEST) 标签:12MHz晶振, 12PF晶振, SMD3225贴片晶振12M, 无源晶振参数, 晶振参数, 晶振测试数据, 晶振温测数据 上一篇: 无源晶振12MHz/16MHz与有源晶振24MHz测试数据对比 下一篇: 时钟发生器Clock Generator与晶振Crystal Oscillator的关系 推荐产品 TCXO2016 VCXO5032 OSC7050