当前位置: 首页 > 技术支持 > 晶振知识 > 正文 晶振FDLD不良是什么原因造成的? 作者:晶诺威科技 时间:2024年04月18日 浏览量:1057 晶振FDLD不良是什么原因造成的?晶诺威科技解释如下: FDLD解释 MaxF~MinF,在指定功率驱动晶振时所测得的(频率最大值~频率最小值)频率差值,FDLD越小越好。 FDLD不良原因 在晶振制造过程中如果受到环境污染,所测得FDLD值就会偏高,FDLD不良会导致晶振频偏超差或时振时不振现象发生。 晶诺威科技产无源贴片晶振SMD3225 25MHz 18pF ±10ppm测试数据如下: 注:测试参考设置值为:FDLD≤±10ppm 标签:18PF晶振, 25MHz晶振, FDLD, 国产晶振, 无源晶振测试数据, 无源晶振电气参数, 晶振制造, 晶振品质, 晶振测试数据, 晶振电气参数解释 上一篇: 晶诺威科技无源贴片晶振SMD3225电气参数测试说明(英文版) 下一篇: 26MHz车规晶振SMD3225温测:频率及电阻变化数据 推荐产品 OCXO-9M TCXO2520 OCXO-2X