关于如何测量晶振的电阻，晶诺威科技解释如下： 测量晶振的“电阻”需要特别注意，因为普通晶振（无源石英晶体谐振器）在静态下并非一个简单的电阻元件。 简单来说，你不能像测量普通电阻那样，用万用表的电阻档去直接测量一个晶振的好坏。这样做通常读数会是“无穷大”（开路），但这不能证明晶振是坏的；反之，如果测出…

时间：2026/01/17

如何用最简单方法测试无源晶振是否起振？ 一、用万用表测试（只能判断好坏，不能判断振荡是否正常） 无源晶振（XTAL）本质上是一个无源压电元件，万用表无法测量它的振荡情况，但可以做简单的通断性检查： 测试方法 ：二极管档（或电阻档）测量两端阻值； 将万用表拨到 二极管档（或 20MΩ 电阻档）； 分别…

时间：2026/01/05

（晶诺威科技产8MHz无源贴片晶振SMD3225-4P尺寸及内部电路连接图） 晶诺威科技产负载电容CL=10pF 8MHz晶振（SMD3225）主要电气参数如下： Nominal frequency标称频率: 8MHz Mode of oscillation振荡模式: fundamental基频 L…

时间：2025/06/11

（晶诺威科技产8MHz无源贴片晶振SMD3225-4P尺寸及内部电路连接图） 晶诺威科技产负载电容CL=12pF 8MHz晶振（SMD3225）主要电气参数如下： Nominal frequency标称频率: 8MHz Mode of oscillation振荡模式: fundamental基频 L…

时间：2025/05/28

关于晶振DLD不良问题，晶诺威科技解释如下： 晶振DLD不良通常是指晶振在测试或使用过程中出现“驱动电平依赖性”（Drive Level Dependency，DLD）问题。DLD是晶振的一个重要参数，表示晶振的输出频率或特性随驱动电平的变化而变化。如果DLD不良，可能会导致晶振的频率稳定性变差，影…

时间：2025/04/22

关于10pF 30MHz SMD3225-4pin贴片无源晶振规格参数，晶诺威科技说明如下： 主要参数： Production type产品类型: 石英晶体谐振器/无源晶振 SMD3225 Nominal frequency标称频率: 30MHz GNW P/N晶诺威料号: 08G30MGF1 Lo…

时间：2024/08/16

关于12pF 20MHz SMD3225-4pin贴片无源晶振规格参数，晶诺威科技说明如下： 主要参数： Production type产品类型: 石英晶体谐振器/无源晶振 SMD3225 Nominal frequency标称频率: 20MHz GNW P/N晶诺威料号: 08G20MQE1 Lo…

时间：2024/08/09

无源晶振如何测好坏？ 答：要测量晶振的好坏，需要使用示波器或频率计。 具体操作如下： 首先用测试针（Current Probe）将无源晶振频率输出脚连接到示波器或频率计上，然后打开电源。如果晶振工作正常，示波器或频率计的显示屏上将会显示出稳定的频率值。如果晶振有问题，频率值会不稳定或者根本没有反应。…

时间：2024/07/26

（MCU与晶振时钟信号） 晶振故障或工作异常会导致什么不良现象？关于晶振故障或工作异常导致的不良现象，晶诺威科技归纳10点如下： 1、时钟信号不稳定： 当晶振出现故障时，其产生的时钟信号可能会变得不稳定。这表现为时钟频率的波动、时钟脉冲的畸变或时钟信号的丢失。这种不稳定性的结果可能导致电子设备运行缓…

时间：2024/07/03

关于对晶振单体判定的方法，晶诺威科技归纳四点如下： 1、测电压： 使用万用表直流电压档测量晶振两端的电压。正常起振时，电压应接近芯片供电电压VCC的一半。如果发现晶振两端的电压有明显偏差，例如一边接近VCC或接近0V，这可能表明晶振没有起振。 2、观察波形： 使用示波器观察晶振两端的波形。起振时，应…

时间：2024/06/08