关于晶振DLD不良问题，晶诺威科技解释如下：

晶振DLD不良通常是指晶振在测试或使用过程中出现“驱动电平依赖性”（Drive Level Dependency，DLD）问题。DLD是晶振的一个重要参数，表示晶振的输出频率或特性随驱动电平的变化而变化。如果DLD不良，可能会导致晶振的频率稳定性变差，影响电路的正常工作。

原因分析

1、 晶振质量问题：

晶振的制造工艺不良，导致内部石英晶片的特性不稳定。晶振的电极材料或焊接工艺存在问题。

2、 环境因素：

温度、湿度等环境条件变化较大，影响晶振的性能。机械振动或冲击导致晶振内部结构受损。

3、 老化问题：

晶振使用时间较长，内部材料老化，导致DLD特性变差。

解决方法

1、更换晶振：

如果晶振本身质量有问题，尝试更换其他品牌或批次的晶振。

2、联系供应商：

如果问题持续存在，联系晶振供应商，提供常温及/或高低温测试数据并寻求技术支持。使用专业的晶振测试设备，测量DLD参数是否符合规格书要求。

激励功率依赖性（Drive Level Dependency）

MaxR-MinR 在指定激励功率范围内，测得的最大电阻与最小电阻之间的差值，单位用Ω表示。