关于晶振DLD不良问题，晶诺威科技解释如下： 晶振DLD不良通常是指晶振在测试或使用过程中出现“驱动电平依赖性”（Drive Level Dependency，DLD）问题。DLD是晶振的一个重要参数，表示晶振的输出频率或特性随驱动电平的变化而变化。如果DLD不良，可能会导致晶振的频率稳定性变差，影…

时间：2025/04/22