2025-04-22

关于晶振DLD不良问题，晶诺威科技解释如下： 晶振DLD不良通常是指晶振在测试或使用过程中出现“驱动电平依赖性”（Drive Level Dependency，DLD）问题。DLD是晶振的一个重要参数，表示晶振的输出频率或特性随驱动电平的变化而变化。如果DLD不良，可能会导致晶振的频率稳定性变差，影…

2025-03-25

以下是常见晶振封装尺寸与频率范围的对照表，供选型参考。不同封装适用于不同频率和应用场景（如32.768kHz用于RTC，高频晶振用于主时钟）。 无源晶振（Crystal）封装与频率对照 封装类型 尺寸（mm） 典型频率范围 常见应用 HC-49S 11.0×4.5 3.2MHz ~ 100MHz 通…

2025-02-20

关于晶诺威科技产10MHz OCXO恒温晶振（低相噪高稳定度）参数说明如下： 首先，有源晶振，即晶体振荡器（Crystal Oscillator），主要分为温补晶振（TCXO）、压控晶振（VCXO）、恒温晶振（OCXO）等几种类型。 一般除压控晶振外，其它类型晶振都常用于时间频率产品中，为相关时间频…

2025-01-23

晶振频率（Frequency）及应用方案（Application） 16.368MHz GPS 19.2MHz LTE/3G MIMO Small Cell, Tablet 24MHz WiFi solution 25MHz Clock distribution, SAS/SATA Controll…

2024-10-24

（贴片晶振内部结构图） 关于晶振气密性及填充介质（ Crystal enclosure medium）的说明 主要有三种： 1、 抽真空后填充氮气（Nitrogen） 2、抽真空（Vacuum） 3、填充干燥空气（Dry air） 晶诺威科技产SMD2016晶体谐振器32MHz气密性测试如下：

2024-07-03

（MCU与晶振时钟信号） 晶振故障或工作异常会导致什么不良现象？关于晶振故障或工作异常导致的不良现象，晶诺威科技归纳10点如下： 1、时钟信号不稳定： 当晶振出现故障时，其产生的时钟信号可能会变得不稳定。这表现为时钟频率的波动、时钟脉冲的畸变或时钟信号的丢失。这种不稳定性的结果可能导致电子设备运行缓…

2024-05-24

（晶诺威科技产8MHz陶瓷封装SMD5032-2P） 晶振金属（SEAM）封装和陶瓷（GLASS）封装有差异吗？ 答：几乎没有差异。 晶诺威科技解释如下： 两者只是上盖选材差异，其它设计完全一样。如果电气特性一样，且焊盘（FOOT PAD）相同，同规格晶振可以相互替换，不会造成使用问题。通常，因上盖…

2024-03-21

晶振生产要求真空度多少？ 答：晶振在生产过程中对环境的要求非常严格，其中对真空度的要求尤其高。为了确保晶振的品质和性能，生产过程需要在高度真空的环境中进行。在制造晶振时，真空度的高低直接影响到晶振的频率稳定性、精度以及可靠性。如果生产环境中的真空度达不到要求，就会导致晶振的性能下降，甚至无法正常工作…

2024-03-19

晶诺威科技产SMD1612无源贴片晶振常规频率及规格 标称频率 负载电容 调整频差 温度频差 工作温度 体积 激励功率 24MHz 6pF ±10ppm to ±30ppm ±10ppm to ±30ppm -40至+85℃ 1.6x1.2x0.35mm 10μw typical 7pF ±10pp…

2024-03-19

晶诺威科技产SMD2016无源贴片晶振常规频率及规格 标称频率 负载电容 调整频差 温度频差 工作温度 体积 激励功率 16MHz 6pF ±10ppm to ±30ppm ±10ppm to ±30ppm -40至+85℃ 2.0x1.6x0.45mm 10μw typical 7pF ±10pp…