晶诺威科技恒温晶振测试电路(Test Circuit for OCXO) 作者:晶诺威科技 时间:2025年02月07日 浏览量:1038 晶诺威科技产恒温晶振测试电路(Test Circuit for OCXO)如下: 注: Vcc为供电引脚 Vc为压控功能(可选) GND为接地引脚 Output为频率信号输出引脚 Output Waveform为输出波形:方波CMOS 标签:bypass capacitor, OCXO恒温晶振, OCXO恒温晶振测试电路, OCXO恒温晶振特点及应用, OCXO恒温晶振规格型号, Test Circuit for OSC, Test Data, 方波测试电路, 旁路电容, 晶振常温测试数据, 晶振高低温测试, 温测曲线 上一篇: 用外部晶振时间太慢应该增大电容还是减小电容? 下一篇: +125度高温车规级晶振32.768KHz规格参数介绍