晶振高低温测试

  • 晶振低温不起振的原因是什么?
    晶振低温不起振的原因是什么? 答:晶振在低温环境下不起振是一个常见的可靠性问题,主要原因涉及石英晶体谐振器及外围电路的物理特性变化。关于晶振低温不起振的原因,晶诺威科技进一步分析如下:  一、石英晶体本身的温度特性 1、频率-温度曲线 AT切石英晶体的谐振频率随温度变化呈三次函数曲线(通常AT切石英…
    时间:2026/02/22
  • 晶振低温失效的表现有哪些?
    晶振低温失效的表现有哪些? 晶振(晶体振荡器)在低温环境下失效的表现通常与频率稳定性、起振特性或信号完整性相关,以下是常见表现及原因分析: 一、 主要失效表现 1、 频率漂移超出范围 低温下晶振的频率可能偏离标称值,超出数据手册规定的温度频差范围(如±10ppm至±100ppm)。极端情况下:频率突…
    时间:2026/01/30
  • 当温度超过晶振额定工作温度会怎么样?
    当温度超过晶振额定工作温度会怎么样?晶诺威科技解释如下: 晶振是一种温度敏感的频控元件。晶体的物理性质在不同的温度下会发生变化,这会对频率稳定性产生影响。因此,制造商通常会在晶振的产品手册中列出其可工作的温度范围。 当晶振的工作温度超过其额定温度范围时: 1、频率偏移可能会超出设计要求,导致系统性能…
    时间:2025/02/21
  • 晶诺威科技恒温晶振测试电路(Test Circuit for OCXO)
    晶诺威科技产恒温晶振测试电路(Test Circuit for OCXO)如下: 注: Vcc为供电引脚 Vc为压控功能(可选) GND为接地引脚 Output为频率信号输出引脚 Output Waveform为输出波形:方波CMOS
    时间:2025/02/07
  • 高温条件下晶振频率往上偏还是往下?
    高温条件下晶振频率往上偏还是往下? 答:一般情况下,在高温条件下工作,晶振的频率会往上偏移。 如下图所示: 在-40℃~+125℃温测中,某款晶振所体现的频偏规律:在+125℃时,四颗被测样品表征为正偏:+85.36ppm、+88.571ppm、86.811ppm及85.301ppm。 晶振在高温区…
    时间:2024/12/13
  • 如何选择合适的晶振以应对温度波动?
    如何选择合适的晶振以应对温度波动?晶诺威科技解答如下: 在选择晶振时,需要根据实际应用场景以及对时钟精度的要求来进行。以下是一些建议: 1、 对于对时钟精度要求较低的应用,可以选择宽温石英晶振,成本较低。 2、 对于对时钟精度要求较高的应用,可以选择TCXO,以提高频率稳定性。 3、 对于对时钟精度…
    时间:2024/11/13
  • 宽温(-40℃~+105℃)晶振12MHz常温及高低温测试数据
    (12MHz晶振输出偏正61ppm) 关于宽温(-40℃~+105℃)晶振12MHz常温及高低温测试数据,晶诺威科技整理如下: 晶诺威科技产晶体谐振器SMD2520-12MHz 12pF ±10ppm常温测试数据: -40℃~+105℃温测曲线如下: -40℃~+105℃温测数据如下: 附:晶诺威科…
    时间:2024/10/31
  • 关于晶振气密性及填充介质( Crystal enclosure medium)的说明
    (贴片晶振内部结构图) 关于晶振气密性及填充介质( Crystal enclosure medium)的说明 主要有三种: 1、 抽真空后填充氮气(Nitrogen) 2、抽真空(Vacuum) 3、填充干燥空气(Dry air) 晶诺威科技产SMD2016晶体谐振器32MHz气密性测试如下:
    时间:2024/10/24
  • 晶振漏气PPM会怎样变化?
    晶振漏气PPM会怎样变化? 答:晶振漏气会导致其输出频率下降,即:PPM会朝负向变化,一般为几十或几百PPM,严重时会直接导致晶振停振。
    时间:2024/10/15
  • 如何测量晶振频率?
    如何测量晶振频率? 答:在给电路板上电后,可以使用频率计数器或示波器来测量晶振频率。针对晶振单体测试,则需要专业的测试仪器,如250B等。
    时间:2024/03/20
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