晶振的ESR怎么测？

提到晶振的ESR，通常指的是无源晶体谐振器“串联等效电阻”这个电气参数。不同封装的同一频点晶体，ESR也不同。即使频率和封装尺寸相同，不同厂家生产的晶体，ESR也存在差异。

英文简称：ESR

英文全程：Equivalent Series Resistance

中文：串联等效电阻

（ESR for 无源晶振SMD3225系列）

无源晶振单体的ESR通常需要在250B设备上才能测试得出，如下图所示：

RR即为ESR参数

如果需要得到ESR温测数据，还需要借助温测机才能获取到不同温度下（如：-40~+85℃范围内）晶振ESR的变化值，如下图所示：

ESR并非一个孤立的参数，它直接关系到电路的成败：

1、关乎启动难易：

ESR越大，晶体振荡就越“吃力”。特别是在低功耗应用中，芯片提供的驱动电流很小，如果晶振的ESR过高，电路可能无法起振。

2、关乎频率稳定性：

过高的ESR会使振荡频率对温度变化和电源波动更敏感，导致系统时钟出现偏差。