• 晶片破损及电阻值变异引发晶振停振问题分析
    2022-07-02
    晶片破损及电阻值变异引发晶振停振问题分析如下: 不良晶振为49S与圆柱体晶振,安装方式为手工焊接。不良品在我司S&A 250B上测试,数据如下: 数据组1   数据组2 数据组3 数据组4 排除误判以外,分析如下: 1、针对测试数据组1~3及晶振49S不良品开壳观测,发现晶片出现裂…
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