关于10pF 30MHz SMD3225-4pin贴片无源晶振规格参数，晶诺威科技说明如下： 主要参数： Production type产品类型: 石英晶体谐振器/无源晶振 SMD3225 Nominal frequency标称频率: 30MHz GNW P/N晶诺威料号: 08G30MGF1 Lo…

时间：2024/08/16

关于18pF 20MHz SMD5032-4pin贴片无源晶振规格参数，晶诺威科技说明如下： 主要参数： Production type产品类型: 石英晶体谐振器/无源晶振 SMD5032 Nominal frequency标称频率: 20MHz GNW P/N晶诺威料号: 03G20MC2 Loa…

时间：2024/08/10

关于晶振频率/稳定度/精度/温度特性的测量方法，晶诺威科技介绍如下： 晶振（Crystal Oscillator）是一种产生稳定频率的电子元件，它通常用于计算机、通信设备、测量仪器等电子产品中。晶振在电路中起到一个时钟信号的作用，它可以为整个电路提供精确的时间基准，从而使电路工作更加稳定和可靠。因此…

时间：2024/07/06

晶诺威科技产26MHz车规晶振SMD3225测试数据如下： 测试参数设置： 常温：+25℃ 负载：15pF 精度：±10ppm   晶诺威科技产26MHz车规晶振SMD3225温测数据如下： 测试温度：-40~+85℃ 1、晶振频率变化（PPM）vs 温度（Temperature） 2、晶…

时间：2024/04/22

如何测量晶振频率？ 答：在给电路板上电后，可以使用频率计数器或示波器来测量晶振频率。针对晶振单体测试，则需要专业的测试仪器，如250B等。

时间：2024/03/20

晶诺威科技产无源贴片晶振10MHz SMD5032 试数据及温测数据如下： 注： 常温测试环境设定及参数设置： +25℃ 负载电容（CL）=20pF 调整频差（Frequency Tolerance）=±10ppm 等效阻抗（ESR）≤60Ω 温度测试环境设定： -40~+85℃   （无…

时间：2024/03/12

晶诺威科技产无源贴片晶振10MHz SMD3225测试数据及温测数据如下： 注： 常温测试环境及参数设置： +25℃ CL=20pF Frequency Tolerance=±10ppm ESR≤150Ω 温度测试环境设定： -40~+85℃ （SMD3225-10MHz晶振常温下测试数据） （温度…

时间：2024/03/12

晶振测试项目都有哪些？ 晶振性能参数测试的目的是通过评估晶振的各项指标，确保其满足设计要求。关于关键性能参数测试方法，晶诺威科技介绍如下： 1、负载电容测试 负载电容是晶振在特定电路条件下的电容负载。测试负载电容时，需要使用LCR表测量晶振两端的电容值，确保它与设计规格相符。 2、驱动电平测试 驱动…

时间：2023/09/30

关于晶振49S/49SMD封装DLD不良可能引发晶振不稳定问题，晶诺威科技解析如下： 作为研发并制造石英晶体谐振器的专业厂家，我们就是要为客户提供质优价廉的可靠产品。但实际上经常还会有些产品在电路应用中出现故障，主要症状为三个： 频偏 停振 不稳定 晶振产品在客户端一旦出现问题，客户就会要求我们尽快…

时间：2023/06/26

晶诺威科技产晶振SMD3225 40MHz 9PF测试数据（常温下测试） 晶诺威科技产晶振SMD3225 40MHz 9PF高低温测试数据（-40~+85℃） 表一：频率PPM随温度变化曲线 表二：晶振电阻随温度变化曲线

时间：2023/04/10