如何测量晶振频率？ 答：在给电路板上电后，可以使用频率计数器或示波器来测量晶振频率。针对晶振单体测试，则需要专业的测试仪器，如250B等。

时间：2024/03/20

晶诺威科技产无源贴片晶振10MHz SMD5032 试数据及温测数据如下： 注： 常温测试环境设定及参数设置： +25℃ 负载电容（CL）=20pF 调整频差（Frequency Tolerance）=±10ppm 等效阻抗（ESR）≤60Ω 温度测试环境设定： -40~+85℃   （无…

时间：2024/03/12

晶诺威科技产无源贴片晶振10MHz SMD3225测试数据及温测数据如下： 注： 常温测试环境及参数设置： +25℃ CL=20pF Frequency Tolerance=±10ppm ESR≤150Ω 温度测试环境设定： -40~+85℃ （SMD3225-10MHz晶振常温下测试数据） （温度…

时间：2024/03/12

晶振测试项目都有哪些？ 晶振性能参数测试的目的是通过评估晶振的各项指标，确保其满足设计要求。关于关键性能参数测试方法，晶诺威科技介绍如下： 1、负载电容测试 负载电容是晶振在特定电路条件下的电容负载。测试负载电容时，需要使用LCR表测量晶振两端的电容值，确保它与设计规格相符。 2、驱动电平测试 驱动…

时间：2023/09/30

关于晶振49S/49SMD封装DLD不良可能引发晶振不稳定问题，晶诺威科技解析如下： 作为研发并制造石英晶体谐振器的专业厂家，我们就是要为客户提供质优价廉的可靠产品。但实际上经常还会有些产品在电路应用中出现故障，主要症状为三个： 频偏 停振 不稳定 晶振产品在客户端一旦出现问题，客户就会要求我们尽快…

时间：2023/06/26

晶诺威科技产晶振SMD3225 40MHz 9PF测试数据（常温下测试） 晶诺威科技产晶振SMD3225 40MHz 9PF高低温测试数据（-40~+85℃） 表一：频率PPM随温度变化曲线 表二：晶振电阻随温度变化曲线

时间：2023/04/10

晶诺威科技产无源贴片晶振SMD3225 12.288M 10PF ±10PPM常温测试数据如下： 测试项目含FL、RR、C0、C1、DLD2、SPDB、TS等

时间：2023/03/09

关于晶诺威8.192MHz无源晶振SMD5032 20PF ±20PPM 测试及温测数据，整理如下： 8.192MHz无源贴片晶振SMD5032 测试数据，包括：FL、RR、C0、C1、C0/C1、DLD2、RLD2、SPDB、Q、TS、SPUR等。在常温下（+25℃），实测数据如下： 8.192M…

时间：2022/10/03

晶诺威科技产无源贴片晶振SMD3225 40MHz电气参数如下： 标称频率 Nominal Frequency：40.000MHz 产品料号PART NO. ：08G40MGE1A 封装类型 Holder Type：SMD 3.2mm*2.5mm 振动模式 Vibration Mode：Fundam…

时间：2022/08/22

工作环境的温度变化对晶振有两个方面的直接影响，一是频率，二是电阻。这两个参数都是晶振的关键电气参数。 首先，晶振都有“温漂”现象，这是石英晶体本身的物理特性所决定。晶振工厂主要是通过改变石英晶片切型方式及后期对石英晶片的再加工技术，来尽可能降低“温漂”对晶振频率的影响。晶振的应用基本原理是，其实际输…

时间：2022/06/28