2024-01-31

除了输出波形测试外，晶振电路匹配还需要进行以下测试： 1、负载电容测试： 负载电容是晶振在特定电路条件下的电容负载，需要使用LCR表测量晶振两端的电容值，确保它与设计规格相符。测试结果应符合设计规格，同时确保晶振在特定电路条件下能正常工作。 2、驱动电平测试： 驱动电平是指晶振在工作状态下所需的最小…

2023-12-13

关于数字电路中信号异常及可能原因，晶诺威科技归纳如下: 1、幅值异常 波形不稳定，导致无法判定高低电平。 可能原因： 负载太大 走线过长 驱动太小 电平异常 2、过冲/回冲 方波过冲/回冲过高。超出正常电平10%。 可能原因： 驱动过高 存在反射 自激振荡 检查去耦 避免晶体振荡器输出波形失真的对策…

2023-12-10

关于晶体（无源晶振）幅度问题，晶诺威科技解释如下： 无源晶振的幅值一般是不可调高的，但可通过串联电阻调低。当在过EMC测试时，因为辐射过高问题，有时候我们会尝试串联电阻来降低这个幅值以改善辐射效果。 因为无源晶振的激励功率（激励功率）和内阻已经固定，因此其输出幅值无法调高。有时我们发现在降低外接电容…

2023-10-30

无源晶振10PF和12PF可以替换吗？ 答：不建议替换。 关于无源晶振负载电容CL的选取，晶诺威科技解释如下： 建议负载电容CL等值替换，因为如果负载电容CL选值错误，可能导致无源晶振输出频率精度超差或波形幅值超差。 晶体谐振器（无源晶振）需要匹配外部谐振电路才可以输出信号，自身无法振荡。在选择晶体…

2022-06-15

（负性阻抗测试） 在晶振电路中的同等条件下，增大电容负载，会降低裕量；提高反向放大器的跨导，会增大裕量；晶振内阻越大，裕量越小。反之亦然。 在真实的大规模生产中，最常用的测试裕量的方法是负阻测试，具体操作步骤如下： 在晶振支路上串联一个电阻，这个阻值的大小一般为3到5倍的晶振内阻（如果是医疗或汽车级…

2021-08-26

关于无源晶振输出波形振幅不足导致系统异常问题分析如下： 在晶振实际应用中，即使测得无源晶振输出频率几乎接近于目标频率，但若波形幅度不足，同样会影响系统正常工作。 晶诺威科技建议如下： 尝试降低外接电容值，采用负载电容（CL）较低的晶振。 尝试采用电阻较低的晶体（Rr）。 尝试使用不等值的外接电容设计…