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CMOS,LVDS,HCSL,LV-PECL测试电路及时钟时序图
CMOS,LVDS,HCSL,LV-PECL测试电路及时钟时序图 由于在有源晶振内部加了整形电路,所以输出是方波,正弦波一般用的很少,普遍用的都是方波输出(很多时候在示波器上看到的还是波形不太好的正弦波,这是由于示波器的带宽不够。 例如:有源晶振20MHz,如果用40MHz或60MHz的示波器测量,…时间:2021/11/29 -
晶诺威科技关于晶振指标,规格及参数详细说明
晶诺威科技关于晶振指标,规格及参数详细说明如下: 总频差:在规定的时间内,由于规定的工作和非工作参数全部组合而引起的晶体振荡器频率与给定标称频率的最大偏差。 说明:总频差包括频率温度稳定度、频率老化率造成的偏差、频率电压特性和频率负载特性等共同造成的最大频差。一般只在对短期频率稳定度关心,而对其他频…时间:2021/09/18 -
无源晶振与有源晶振晶振主要输出波形对比
无源晶振与有源晶振晶振主要的输出波形对比如下: 1、无源晶振输出波形为:Sine Wave(正弦波) 2、常规OSC有源晶振输出波形为方波(CMOS):包括HCMOS、LVCMOS等。HCMOS(H:High,是“高”的意思)指3.3V及以上,LVCMOS(LV:Low Voltage…时间:2021/09/09 -
如何通过终端电阻对晶振输出波形output waveform进行整形?
关于通过终端电阻对晶振输出波形output waveform进行整形方法,晶诺威科技介绍如下: 终端电阻的接法主要分为以下两种: 连接滤波器 通常可以使用串联电阻或终端电阻对输岀波形进行整形。若由此仍然无法完全解決问题,则使用滤波器。使用滤波器可去除高频率的相噪,但tr、tf将变大(脉冲前后沿变圆)…时间:2021/09/03 -
关于无源晶振输出波形振幅不足导致系统异常问题
关于无源晶振输出波形振幅不足导致系统异常问题分析如下: 在晶振实际应用中,即使测得无源晶振输出频率几乎接近于目标频率,但若波形幅度不足,同样会影响系统正常工作。 晶诺威科技建议如下: 尝试降低外接电容值,采用负载电容(CL)较低的晶振。 尝试采用电阻较低的晶体(Rr)。 尝试使用不等值的外接电容设计…时间:2021/08/26 -
有源晶振输出方式解析:CMOS,LVCMOS,TTL,LVTTL,LVDS
有源晶振常见输出方式(output waveform)图例 有源晶振常见输出方式(Output Waveform)如下: CMOS CMOS是Complementary Metal Oxide Semiconductor的英文缩写,这种接口电平标准的初衷是用于基于NMOS、PMOS组成的MOS管结构…时间:2021/08/25 -
差分晶振156.25MHz LVDS规格书及使用说明
差分晶振156.25MHz LVDS规格书及使用说明如下: PRODUCT TYPE(产品类型): SMD LVDS CXO DIMENSIONS(尺寸)3.2mm*2.5mm NOMINAL FREQ.(标称频率): 156.25MHz TXC P/N(TXC 料号): DFA5600007 EL…时间:2021/08/20 -
为何测试无源晶振频率输出脚与频率输入脚频率或波形不一样
(32.768KHz无源晶振频率输出脚与频率输入脚实测频率或波形不一样范例) 如上图所示,测试无源晶振频率输出脚与频率输入脚频率或波形不一样,属于正常现象,因为一个是经由放大器的输出,振幅比较大。另外一个是放大器的输入,信号由输出端经晶振过来,振幅减弱,比较小。另外,测试仪表的探针电容大小、频宽差异…时间:2021/08/12 -
如何通过串联电阻降低晶振相噪phase noise,避免输出波形output waveform失真?
串联电阻降低晶振相噪(phase noise)避免输出波形(output waveform)失真方法介绍 主要分为连接串联电阻与连接终端电阻两部分: 连接串联电阻: 晶振连接输入对象的元器件时,通常产生过冲、下冲或振铃等波形变形。这些变形的波形中含有振荡频率的约3-7倍的射频成份,将引发相噪,所以必…时间:2021/08/05 -
如何避免晶振输岀波形output waveform失真?
避免晶振输岀波形output waveform失真的关键是需要稳定的输岀线路,确保输入侧所需tr、tf、VOH、VOL等波形特性,即:应当去除不必要的信号,例如过冲、下冲、振影或反射波等。而且,还应降低输岀线路的作为天线释放相噪的效率,使相噪难以释放。 如下图所示:时间:2021/08/04
