晶振，作为现代电子设备中不可或缺的时钟源，其性能直接关系到整个系统的稳定性和可靠性。在晶振电路设计中，近端和远端的相位噪声（Phase Noise）是评估晶振性能的重要指标。相位噪声反映了信号频率稳定性的质量，即信号中频率成分的随机波动。 一、近端相位噪声 近端相位噪声通常指距离载波频率较近的频率范…

时间：2025/11/16

（CMOS输出有源晶振测试电路） 有源晶振是信号源的核心所在。在构建各种电子设备及通信系统设备等过程中，有源晶振周围的电路结构及设计对系统能否最大程度发挥功能起着重要的作用。特别是有源晶振周围电路，由于将在搭载数字电路的基板上以最高速度工作，较易产生噪音，所以在设计电路时必须对此引起足够重视。 为了…

时间：2020/07/15