（晶振可靠性测试及参考标准） 晶振的可靠性测试是确保电子产品长期稳定运行的关键环节。下面我将系统地为您梳理晶振可靠性测试的主要项目、常用方法及参考标准。 一、 可靠性测试的核心目的 评估晶振在规定的条件下和规定的时间内，完成规定功能的能力。主要考核其电气性能、机械完整性、环境适应性和长期寿命。 二、…

时间：2026/01/13

关于40MHz OSC3225 5V CMOS输出有源晶振规格参数，晶诺威科技介绍如下： 1、 晶振类型：有源晶振/晶体振荡器/Crystal Oscillator/OSC3225 2、 标称频率：40.000 MHz 3、 输入电压：5V DC ±10% 4、 频率稳定性：±50ppm 5、 工作…

时间：2025/07/26

一般贴片晶振的外壳可以承受多大外力？ 答：晶振本体荷重：10N，持续时间：10秒，治具：R0.5（制品中心位置）。 附：晶诺威科技晶振产品可靠性测试

时间：2024/05/22

晶诺威科技产晶振产品可靠性测试项目及标准Reliability Test 抗焊热 Resistance To Soldering Heat Test   MIL-STD-202G Method 210F 高温储藏 High Temperature Storage   MIL-STD-202 Meth…

时间：2022/07/01