介绍两种简单的有源晶振测试方法，如下：

一、用万用表测试（只能判断好坏，不能判断振荡是否正常）

有源晶振（如 CMOS、LVDS、LVPECL 晶振）需要供电才能工作，万用表可以用来检测供电情况，但不能直接测频率。

测试方法（CMOS、LVDS、LVPECL 晶振）

1、将万用表调到 直流电压档（DCV）。

2、黑表笔接 GND，红表笔测量晶振的 VCC 引脚。

3、确保电压符合晶振规格（如 3.3V、2.5V、1.8V）。

4、供电电压正常（如 3.3V）说明晶振已供电，可以工作；如果 VCC 为 0V，可能是电路供电异常或晶振损坏。

测试方法（仅CMOS 晶振）：

1、将万用表调到 直流电压档（DCV）。

2、测量有源晶振的输出引脚（OUT也就是CLK）的电压。

3、如果晶振工作，输出端应有一个接近供电电压一半的平均电压（3.3V 供电，OUT 端测得约 1.6V（方波的平均值））；如果输出电压 = 0V ，晶振可能未启动或损坏或输出电压 = 供电电压 ，可能是时钟 IC 关断了输出。

4、万用表测量的是直流平均电压，不是实际的振荡波形，不能准确判断时钟是否工作

二、用示波器测试

测试方法 ：

有源晶振直接输出时钟信号。

1、供电（如 3.3V、2.5V）给有源晶振。

2、使用示波器（10x 探头）测量输出信号(OUT 引脚,也就是CLK信号脚),带宽 ≥ 频率 3 倍。

3、观察波形，方波信号（CMOS输出晶振），峰峰值 接近供电电压（如 3.3V），确保频率和电压符合规格。

CMOS波形参考

LVDS / LVPECL波形参考

LVDS / LVPECL 晶振 输出的是差分信号，示波器测试时需要差分探头，或使用 GND + 单端探测（但信号质量会受影响）; HCSL晶振需要50Ω 端接，否则信号可能出现反射。

若对时钟信号有严格要求（如：低抖动、高稳定性），可使用频谱分析仪或相位噪声测试仪来测量时钟质量。

注意：

在测量晶振波形时，一定要注意两个事情：

1）示波器的带宽；

2)负载电容。

晶振对负载电容比较敏感，所以测量时要尽量减少输入电容对测量的影响。