如果怀疑晶振不起振造成电路板上电不良，该如何进一步判定是晶振本身的不良呢？这一步的判定非常关键，因为若为晶振不振，就可以排除晶振与电路板不匹配造成电路板上电不良发生的假定。以下介绍针对晶振单体判定的方法：
- 测电压：使用万用表的直流电压档，测量晶振两端的电压，起振的时候，电压一般是芯片供电电压VCC的一半。当然晶振两边的电压可能有差异，但如果有一边电压接近VCC，或者有一边接近0，就说明可能是晶振不起振。
- 看波形：用示波器观察波形是最直观的。可以用10X或者100X的探头来测试晶振两端的波形。起振的时候会有正常、齐整的波形出现
- 看频率：使用频率计数器测试晶振输出脚或输入脚频率，若无法测得稳定的接近晶振标配频率的频率计数，反而出现杂乱频率，则说明晶振不起振。
- 使用250B测试仪器针对晶振单品测试，确定晶振是否输出标配频率。若晶振不良，可选择晶振相关参数进行测试，比如R、DLD2、SPDB、DLD2、TS等，进一步了解晶振不良原因。
若经由验证，晶振为良品，则需要进一步排查晶振周围电路及与电路匹配问题。详情如下:
1、 检查线路连接是否正确，如果存在虚焊或者短路，晶振自然不起振，可以使用万用表检查晶振连接线路是否存在虚焊或短路。
2、 检查选用的负载电容和负载电阻是否正确。不同单片机和芯片对晶振要求都有所不同。需要遵循规格书来确定所选用的晶振负载电容和负载电阻是否正确、合理。
3、 检查PCB的Layout是否合理。晶振部分电路要求与单片机或者芯片引脚尽量靠近，PCB的Layout不合理也会导致晶振不起振。
4、检查软件程序配置是否正确。许多单片机都有多个时钟系统可配置。使用内部振荡器时，晶振引脚还可以作为普通IO使用。如果程序配置出错，晶振自然也不会起振。
