如果怀疑晶振不起振造成电路板上电不良，该如何进一步判定是晶振本身的不良呢？这一步的判定非常关键，因为若为晶振不振，就可以排除晶振与电路板不匹配造成电路板上电不良发生的假定。以下介绍针对晶振单体判定的方法：

• 测电压：使用万用表的直流电压档，测量晶振两端的电压，起振的时候，电压一般是芯片供电电压VCC的一半。当然晶振两边的电压可能有差异，但如果有一边电压接近VCC，或者有一边接近0，就说明可能是晶振不起振。

• 看波形：用示波器观察波形是最直观的。可以用10X或者100X的探头来测试晶振两端的波形。起振的时候会有正常、齐整的波形出现

• 看频率：使用频率计数器测试晶振输出脚或输入脚频率，若无法测得稳定的接近晶振标配频率的频率计数，反而出现杂乱频率，则说明晶振不起振。

• 使用250B测试仪器针对晶振单品测试，确定晶振是否输出标配频率。若晶振不良，可选择晶振相关参数进行测试，比如R、DLD2、SPDB、DLD2、TS等，进一步了解晶振不良原因。

若经由验证，晶振为良品，则需要进一步排查晶振周围电路及与电路匹配问题。详情如下:

1、  检查线路连接是否正确，如果存在虚焊或者短路，晶振自然不起振，可以使用万用表检查晶振连接线路是否存在虚焊或短路。

2、  检查选用的负载电容和负载电阻是否正确。不同单片机和芯片对晶振要求都有所不同。需要遵循规格书来确定所选用的晶振负载电容和负载电阻是否正确、合理。

3、  检查PCB的Layout是否合理。晶振部分电路要求与单片机或者芯片引脚尽量靠近，PCB的Layout不合理也会导致晶振不起振。

4、检查软件程序配置是否正确。许多单片机都有多个时钟系统可配置。使用内部振荡器时，晶振引脚还可以作为普通IO使用。如果程序配置出错，晶振自然也不会起振。

拓展阅读：为什么晶振标称频率和实际频率不完全一样？

25MHz晶振输出一定就是25.000000MHz吗？在实际应用中，频率并不会完全等于标称值，会存在几十Hz或几百Hz频率偏差。

标称频率是晶振在标准测试条件下的目标频率，例如8MHz、12MHz、16MHz、20MHz
24MHz、25MHz、40MHz。石英晶体的振荡频率会受到多种因素影响。产品规格书中会标注一个允许误差范围，例如±10ppm、±20ppm、±30ppm。

以±10ppm的25MHz晶振为例：±10ppm表示存在约±250Hz的偏差实际频率可能是：24,999,750Hz ～ 25,000,250Hz

为什么实际频率会发生变化?

同样型号的晶振，在不同电路板上测试结果甚至都不完全一样。影响实际频率的因素有以下几个方面：

1、温度变化（Operating Temperature Range）

普通石英晶振通常采用AT切晶片，其频率在25℃附近最为稳定。当环境温度升高或降低时，由于石英晶体的弹性常数随温度变化，频率会产生一定漂移。在高稳定性应用中，通常会采用温补晶振TCXO来对温度漂移进行补偿，从而提高频率稳定度。

2、负载电容（Loading Capacitance）

如果实际电路中的负载电容与设计值不匹配，频率就会发生偏移。

3、PCB布局（PCB Layout）

在高速通信系统中，PCB布局不合理可能会导致起振困难、波形不稳定、频率抖动增加。

为什么有些晶振的频率更稳定？

高品质晶振通常会优化以下方面：石英材料纯度(Q值/品质因素)、频率准确度、封装工艺、温漂控制、老化特性、一致性控制。这些因素都会直接影响实际工作频率稳定度。

如果同批次晶振产品频率离散度过大，就容易导致参数反复调整、批量调试困难、产品良率下降。