2024-08-27

无源晶振振幅与MCU之间有关系吗？ 答：是的。MCU直接决定着晶振振幅的大小。 晶诺威科技详解如下： 无源晶振又被称之为晶体谐振器，属于被动频率器件。在芯片手册中，都会对晶振电气参数有详细注明，如CL（负载电容）、ESR（等效串联电阻）、DL（激励功率）等。当晶振电气参数满足芯片要求时，晶振振幅（输…

2024-08-26

（无源晶振SMD2016电气参数） 晶振功耗过大解决办法有哪些？ 答：一般情况下，晶振体积越小，功耗越小。 如果是有源晶振应用方案，直接选择低功耗有源晶振系列就好了。如果是无源晶振方案，建议选择低负载（CL）及低等效电阻（ESR）。 （有源晶振OSC7050电气参数） 晶诺威科技详解如下： 1、在有…

2024-08-25

（EXTERNAL CRYSTAL:外部晶振） 怎么判定芯片需要多大频率晶振？ 答：根据芯片型号，查阅芯片手册关于外部时钟相关内容。 如下图所示： 该型号芯片需要两颗外部晶振，频率分别为32MHz和32.768KHz。  

2024-08-22

SUGGESTED PLACEMENT OF THE OSCILLATOR CIRCUIT  关于芯片外部晶振放置位置，晶诺威科技说明如下: External Oscillator Pins Many microcontrollers have options for at least two os…

2024-08-18

（无源晶振电路中的外接匹配电容CL1和CL2） COG(NPO)贴片电容简述 COG(NPO)贴片电容属于Class 1温度补偿型电容。它的容量稳定，几乎不随温度、电压、时间的变化而变化。尤其适用于高频电子电路。 COG(NPO)贴片电容特性 具有最高的电容量稳定性，在-55℃～125℃工作温度范围…

2024-08-17

关于晶振电路抗扰性及优化方案，晶诺威科技解释如下： 电路抗扰性不良也是晶振失效的常见原因之一。电路抗扰性差意味着电子设备容易受到干扰，这会直接影响晶振的工作。 1、电源噪声 电源噪声是电路抗扰性不良的一个重要因素。电源声会引起晶振的频率变化，导致晶振失效。此外，电源噪声还会引发电路中其他元件的异常运…

2024-08-14

温度变化对晶振外接电容有哪些影响？ 答：温度变化（尤其是温度升高）会对其外接电容容值（CL1&CL2）大小造成影响。若其容值受热增大时，可能造成晶振起振困难或不起振。建议选择NPO型电容。 通常情况下，电容器的容值在温度升高时会减小，在温度降低时会增加。 这是由于电容器内部材料的性质在不同温…

2024-08-13

关于晶振制造对晶振品质的三个主要影响，晶诺威科技解释说明如下： 1、石英晶片 晶振的输出频率是由内部石英晶片以固有频率高频振荡而产生。石英晶片需要覆银（或金）形成电极面，并经由晶振内部电路，最终接入振荡电路。如果石英晶片镀银不良，就会造成晶振电气参数DLD不良，具体表现为高低温下频偏超差或因电阻跳变…

2024-08-06

如何提高晶振的频率稳定性？晶诺威科技解释如下： 在实际应用中，可以通过以下几种方式来提高晶振的频率稳定性： 1、选择高性能的晶体材料和制程工艺：高品质的晶体材料和制程工艺能够降低晶振的频率漂移，从而提高频率稳定性。 2、采用优化的封装结构：封装结构对晶振的频率稳定性有很大影响。优化的封装结构可以减少…

2024-08-04

晶振接触不良是什么原因造成的？ 答：由于焊接不良、金属疲劳或氧化等原因，晶振的引脚与电路板之间可能出现接触不良。 进一步解释： 这种失效模式会导致晶振输出的信号不稳定。为了避免这种情况，需要确保焊接过程的质量和定期对晶振进行维护。 其它晶振失效因素： 1、温度、湿度、气压等环境因素可能导致晶振失效。…