• 针对晶振单体进行温测的重要性
    2022-06-28
    工作环境的温度变化对晶振有两个方面的直接影响,一是频率,二是电阻。这两个参数都是晶振的关键电气参数。 首先,晶振都有“温漂”现象,这是石英晶体本身的物理特性所决定。晶振工厂主要是通过改变石英晶片切型方式及后期对石英晶片的再加工技术,来尽可能降低“温漂”对晶振频率的影响。晶振的应用基本原理是,其实际输…
  • 晶振等效阻抗ESR的大小对晶振起振的影响
    2022-06-27
    晶振等效阻抗ESR的大小对晶振起振的影响,解释如下: 等效阻抗 英文简称:ESR 英文全称: Equivalent Series Resistance 在无源晶振电气参数中,等效阻抗ESR是一个非常重要的电气参数。若等效阻抗ESR过大超差,会带来三方面的不良影响: 1、无源晶振起振困难/慢 2、无源…
  • 8MHz晶振不良造成触摸屏失效问题解析
    2022-06-22
    8MHz晶振不良造成触摸屏失效问题解析如下: 不良表述:触摸屏失灵 拆机检查,目测没有发现存在脱焊或虚焊现象,换用一块新触摸主板后故障消失。故障排除步骤如下: 1、测故障主板上U27(DE21C)5V转3.3V正常 2、测单芯片STM32、24、36、48脚3.3V供电正常 3、红外接收管3.1V供…
  • 负载电容与无源晶振8MHz起振之间的关系
    2022-06-22
    以最常见的8MHz无源晶振电路为例,客户问到的最多的问题,列举如下: 1、8MHz无源晶振为什么不起振? 2、8MHz无源晶振为什么起振慢? 3、8MHz无源晶振要匹配多大电容? 4、怎么知道8MHz无源晶振有没有起振? 首先,判定8MHz无源晶振有没有起振,在上电后: 1、 可用示波器探头测量晶振…
  • 低功耗模式下无源晶振不起振原因分析
    2022-06-15
    低功耗设备需要低功耗芯片与低功耗晶振。但是有时我们会碰到在低功耗模式下,无源晶振不起振的现象。分析原因如下,仅供参考: 很简单的一个道理:只有在MCU内放大器的驱动力大于晶振的负载阻力的前提下,无源晶振才能够起振。因此,为了降低晶振的等效电阻ESR和电导Gmcirt,需要负载电容CL与晶振的C0相匹…
  • 负载电容CL选择错误导致32.768KHz晶振时间不准或停振
    2022-06-13
    如上图所示,在某一款芯片对晶振32.768KHz规格要求中,晶振主要电气参数如下: 标称频率Nominal Frequency: 32.768KHz 负载电容CL: 8PF 等效电阻ESR:40KΩ 工作温度范围Operating Temperature Range:-40~+85℃ 频率稳定度Fr…
  • DLD2不良导致晶振休眠原因分析
    2022-05-17
    关于DLD2不良导致晶振休眠原因,分析如下: DLD2 英文为Drive Level Dependency。为在不同的功率驱动晶振时,所得之最大阻抗与最小阻抗之差。 DLD2越小越好,当晶振制程受污染时,则DLD2值会偏高,导致时振与时不振现象,即 “晶振休眠”。好的晶振不会因驱动功率变化而产生较高…
  • 晶片点胶不良引发的晶振故障/停振
    2022-03-03
    由石英晶片点胶不良可能引发晶振故障/停振原因解析如下: 晶片点胶区域不良如下: 点胶面积过小放大图如下: 晶片导电胶的作用主要为: 1、 实现石英晶片与金属支架之间的牢固连接 2、 实现晶片镀银层与基座之间的电流正常导通 因此可见,若导电胶本身性能不良,如固着性能差,则可能导致晶片在自身振荡条件之下…
  • 引发晶振电阻跳变原因之一:晶片不良放大图
    2022-03-02
    引发晶振电阻跳变原因之一:晶片制程不良 晶片不良区域 晶片不良区域经更大倍数放大后,显示边缘残缺。 分析及结论: 石英晶片是石英晶振的核心部件,当晶振(包括石英晶片)制程发生不良,如出现晶片残缺、晶片平滑度不达标、镀银前晶片洁净度不达标、镀银工艺不达标、镀银后晶振内部洁净度不达标(其中包括微尘颗粒数…
  • 怎么检查晶振有没有起振?
    2022-03-01
    首先,晶振分为无源晶振和有源晶振两大类,它们在电路应用中存在差异。一般情况下,检查晶振有没有起振主要发生在无源晶振的应用方面。 1、无源晶振具备两个管脚:频率输入脚与频率输出脚。若无源晶振已经起振,说明这两个管脚之间必然存在电压差,这样才会有流经的电流对晶片产生激励功率。但是,我们判定晶振是否起振的…
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