• 晶振SMD3225 40MHz 9PF常温下测试数据及高低温数据
    2023-04-10
    晶诺威科技产晶振SMD3225 40MHz 9PF测试数据(常温下测试) 晶诺威科技产晶振SMD3225 40MHz 9PF高低温测试数据(-40~+85℃) 表一:频率PPM随温度变化曲线 表二:晶振电阻随温度变化曲线
  • 可过超声波贴片晶振SMD2016 32MHz 8PF 10PPM规格参数及测试数据
    2023-03-31
    晶诺威科技产可过超声波贴片晶振SMD2016 32MHz 8PF 10PPM主要电气参数如下: Product Type产品类型:石英晶体谐振器/无源贴片晶振 GNW P/N晶诺威科技料号:09G32MCH1 Nominal Frequency标称频率:32MHz Loading Capacitan…
  • 有哪些因素影响无源晶振起振时间?
    2023-02-11
    有哪些因素影响无源晶振起振时间? 起振时间的长短主要由晶体的谐振电阻和振荡器的负性阻抗共同决定。高Q值的晶体谐振电阻较小,起振速度更快。晶诺威科技解释如下: 1、负载电容(CL) 如果负载电容很大,静态电容C0的改变对频率变化的影响很小,频率更加稳定。所以负载高,远端相位噪声好;若过大,则很难调整到…
  • 贴片晶振SMD3225-24M-9PF频率及电阻温测数据
    2022-12-21
    (贴片晶振SMD3225-24M-9PF在温测中的频率变化)   (贴片晶振SMD3225-24M-9PF在温测中的电阻变化) 贴片晶振SMD3225-24M-9PF频率及电阻温测数据如下: 针对晶振单体温测的必要性: 1、确保晶振在指定工作温度区间内没有发生电阻跳变,防止晶振起振困难或停…
  • 8.192MHz无源晶振SMD5032 测试及温测数据
    2022-10-03
    关于晶诺威8.192MHz无源晶振SMD5032 20PF ±20PPM 测试及温测数据,整理如下: 8.192MHz无源贴片晶振SMD5032 测试数据,包括:FL、RR、C0、C1、C0/C1、DLD2、RLD2、SPDB、Q、TS、SPUR等。在常温下(+25℃),实测数据如下: 8.192M…
  • CMOS输出10MHz高精度石英温补振荡器TCXO DIP14规格及参数
    2022-09-20
    (TEST DATA FOR TCXO-DIP14-10MHZ-5V) 关于CMOS输出10MHz高精度石英温补振荡器TCXO DIP14规格及参数,晶诺威科技介绍如下: MAIN ELECTRICAL CHARACTERITICS主要电气参数 标称频率Nominal Frequency: 10.0…
  • 无源贴片晶振SMD3225 13.560MHz规格及测试数据
    2022-08-30
    (无源贴片晶振SMD3225 13.560MHz PIN1和PIN3可以互换) 晶诺威科技产无源贴片晶振SMD3225 13.560MHz主要电气参数 标称频率 Nominal Frequency:13.560000MHz 封装类型 Holder Type:SMD 3.2mm*2.5mm 振动模式 …
  • 晶诺威科技49SMD封装晶振4MHz可靠度测试数据
    2022-08-04
    (49SMD晶振4MHz产品图片) 晶诺威科技49SMD封装晶振4MHz可靠度测试数据,整理如下: 测试项目:自由跌落 测试设备:跌落台,30mm厚硬木板,250B 测试条件:从75cm高自由跌落至30mm厚硬木板上,跌落3次。 测试数据如下:   测试项目:低频振动 测试设备:振动测试台…
  • 无源晶振主要电气参数及其对电路的影响
    2022-06-27
    (无源晶振主要电气参数及其对电路的影响) RR 阻抗RR越小,晶振越容易起振;反之,若晶振ESR过高,则晶振不易起振,可能会给电路造成不稳定。 C1 动态电容 L1 动态电感 C0 静电容 静电容C0不能太高,否则易产生较大的副波,影响晶振频率稳定性。 FL 在特定负载电容以及激励功率下,频偏越小越…
  • SMD3225晶振16M参数及温度测试数据Temperature Test Data
    2022-06-27
    SMD3225晶振16M参数及温度测试数据Temperature Test Data,如下: 晶诺威科技SMD3225无源贴片晶振16M 12PF ±10PPM主要电气参数测试数据 测试设备:250B 测试日期:2022-6-24 样品数量:50pcs Reference:16,000,000,00…
电话:0755-23068369