EMC测试项目及电磁波对晶振的影响

作者:晶诺威科技

时间:2020年09月17日

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EMC测试项目及电磁波对晶振的影响

EMC全称Electro Magnetic Compatibility,指设备或系统在其电磁环境中能正常工作，且不对该环境中任何事物构成不能承受的电磁骚扰的能力。EMC是评价电子产品质量的一个重要指标。

从广义上讲，EMC测试的具体项目包括以下两个大项：

（1）EMI（Electro-Magnetic Interference）—电磁干扰测试

此测试之目的为：检测电器产品所产生的电磁辐射对人体、公共电网以及其他正常工作之电器产品的影响。

（2）EMS（Electro-Magnetic Susceptibility）—电磁抗扰度测试

此测试之目的为：检测电器产品能否在电磁环境中稳定工作，不受影响。

再划分到小点，这两个大项的具体项目以及各自项目对应的常用测试标准如下：

其中EMI包括：

（1）辐射骚扰测试（RE）—测试标准：EN55022

（2）传导骚扰测试（CE）—测试标准：EN55022

（3）谐波电流测试（Harmonic）—测试标准：EN61000-3-2

（4）电压变化与闪烁测试（Flicker）—测试标准：EN61000-3-3

EMS包括：

（1）静电放电抗扰度测试（ESD）—测试标准：EN6100-4-2

（2）射频电磁场辐射抗扰度（RS）—测试标准：EN61000-4-3

（3）射频场感应的传导骚扰抗扰度（CS）—测试标准：EN61000-4-6

（4）电快速瞬变脉冲群抗扰度测试（EFT）—测试标准：EN61000-4-4

（5）浪涌（冲击）抗扰度（SURGE）—测试标准：EN61000-4-5

（6）电压暂降，短时中断和电压变化抗扰度测试（DIP）—测试标准：EN61000-4-11

（7）工频磁场抗扰度测试（PFMF）—测试标准：EN61000-4-8

在电路板上电后，若作为频率器件的晶振周边存在较强杂散电磁信号时，会直接导致晶振输出频率受到干扰，引发频率偏移，严重时影响电路板正常工作。因此晶振本身具备抗电磁干扰能力也是晶振品质的一个重要特性。另外，在电路板布线时需要注意：

1、晶振尽量靠近芯片，走线短且直。

2、晶振引出的两根时钟信号线也要短，防止形成发射天线。

3、尽量设计晶振位于远离电磁波干扰区域，如远离电源，天线等器件。

4、晶振下方不要走线，走线过程不能隔断，不要过孔换层。

5、屏蔽晶振，接地脚接地。

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