Many engineers do not spend much thought on quartz crystals while designing their oscillator circuit. For them, it is a standard feature that will wor…

时间：2025/09/25

Some common questions about Quartz Crystal 1. No signal output from the crystal on oscillation circuit? If there is no signal output measured by two t…

时间：2025/08/26

（15pF有源晶振测试电路） 有源晶振有负性阻抗吗？ 答：“负性阻抗”是针对无源晶振（晶体谐振器）起振电路的。而有源晶振（晶体振荡器）内部已经构成完整的振荡电路，已经规避了因负性阻抗与晶体谐振器不匹配引发的不良现象，如晶振起振困难或不起振等问题。因此，在有源晶振应用电路中，无需再考虑“负性阻抗”这个…

时间：2024/10/26

Unless adequate negative resistance is allocated in the oscillation circuit, start up time of oscillation may be increased, or no oscillation may occu…

时间：2024/04/07

除了输出波形测试外，晶振电路匹配还需要进行以下测试： 1、负载电容测试： 负载电容是晶振在特定电路条件下的电容负载，需要使用LCR表测量晶振两端的电容值，确保它与设计规格相符。测试结果应符合设计规格，同时确保晶振在特定电路条件下能正常工作。 2、驱动电平测试： 驱动电平是指晶振在工作状态下所需的最小…

时间：2024/01/31

无源晶振的信号电平是由什么决定的？晶诺威科技解释如下： 无源晶振只有两个频率管脚。无源晶振没有电源电压，其信号电平是根据起振电路来决定的，是可变的，同样的无源晶振可以适用于多种电压，可适用于不同电压要求的CPU。通常，无源晶振的价格比较低，在民用产品当中为了降低成品大部分使用的都是无源晶振。 在无源…

时间：2023/12/14

晶振测试项目都有哪些？ 晶振性能参数测试的目的是通过评估晶振的各项指标，确保其满足设计要求。关于关键性能参数测试方法，晶诺威科技介绍如下： 1、负载电容测试 负载电容是晶振在特定电路条件下的电容负载。测试负载电容时，需要使用LCR表测量晶振两端的电容值，确保它与设计规格相符。 2、驱动电平测试 驱动…

时间：2023/09/30

关于晶振ESR（等效阻抗）太大导致晶振不起振问题，晶诺威科技解释如下： 在无源晶振起振电路中，电路负性阻抗一般要在晶振ESR（等效阻抗）的5倍以上才能保障其正常起振。但是如果因晶振品质不合格，导致其ESR过大，也会造成晶振起振困难或不起振。 晶诺威科技产SMD7050晶体谐振器ESR（等效阻抗）说明…

时间：2023/04/15

如何调整晶振电路的负性阻抗Negative Resistance Value？解释如下： 一般而言，负性阻抗值应满足不少于晶振标称最大阻抗（ESR/Equivalent Series Resistance/等效串联电阻）的3-5倍。如：若32.768KHz晶振ESR=45KΩ，则建议负性阻抗Nega…

时间：2023/02/18

一般这种情况发生在无源晶振的电路应用，原因分析为连接晶振模块（包括匹配电容）和主芯片引线过长会增加寄生电容，同时更加容易受到静电干扰以及其它信号线的串扰。晶振在频率范围的临界点（边缘值）振荡，造成芯片无法正常捕捉到晶振频率信号。 用手触摸晶振时，手上自带的静电或手本身作为一个电容器改变了电路板的杂散…

时间：2021/09/06