解决方案
  • 晶振起振慢的原因与分析
    2024-02-18
    关于晶振起振慢的原因,晶诺威科技分析如下: 1、电容参数不匹配 如果使用的电容参数与晶振的要求不匹配,容易导致起振慢的问题。 2、晶振电阻(ESR)过大 如果晶振的等效电阻过大,容易造成激励功率驱动不足,造成起振慢。 3、PCB板设计不当 如果PCB板设计中,晶振在强噪声的环境下(如马达、喇叭,风扇…
  • 晶振两端电容对时间的影响是什么?
    2024-02-05
    晶振两端电容对时间的影响是什么? 答:晶振两端电容越大,时间越慢;晶振两端电容越小,时间越快。 晶诺威科技解释如下: 一般情况下,增大无源晶振的负载电容将会使其振荡频率下降。负载电容越大,其振荡越稳定,但是会增加起振时间和功耗。 晶振两端电容大小对电路的稳定性有着重要影响。合适的电容大小可以提高电路…
  • 9pF晶振选多大电容?
    2024-02-04
    9pF晶振选多大电容? 答: 12pF 晶诺威科技解释如下: 在一些情况下,为晶振添加适当的负载电容是必要的。这有助于维持振荡的稳定性,确保信号的质量和准确性。 当负载电容CL=9pF,建议外接电容C1=C2=12pF。
  • 晶振电路测试有哪些项目?
    2024-01-31
    除了输出波形测试外,晶振电路匹配还需要进行以下测试: 1、负载电容测试: 负载电容是晶振在特定电路条件下的电容负载,需要使用LCR表测量晶振两端的电容值,确保它与设计规格相符。测试结果应符合设计规格,同时确保晶振在特定电路条件下能正常工作。 2、驱动电平测试: 驱动电平是指晶振在工作状态下所需的最小…
  • 关于展频晶振抗干扰与时钟精度的冲突问题
    2024-01-19
    关于展频晶振抗干扰与时钟精度的冲突问题,晶诺威科技分析如下: Every electronic product designer has to deal with the issue of electromagnetic compatibility (EMC) or electromagnetic …
  • 32.768K晶振时间慢了怎样调电容?
    2024-01-18
    32.768K晶振时间慢了怎样调电容? 答:如果时间慢,请调小电容(CL1&CL2);反之,如果时间快,请调大电容(CL1&CL2)。 注:负载电容(CL)是晶体的技术指标,并不是外接并联的电容(CL1&CL2)。如果这个晶体负载电容是12.5pF,考虑分布杂散电容3pF,那…
  • 关于多层PCB设计中晶振接地(GND)问题
    2024-01-17
    关于多层PCB设计中晶振接地(GND)问题,晶诺威科技解释如下: 在多层PCB设计中,合理的层叠设计有助于减小电磁干扰和信号干扰。通常,将信号层与地平面和电源平面隔开,有助于提高信号完整性和降低EMI。 地平面(Ground Plane) 指在电路设计中,用于连接和分布地(Ground)的导电区域。…
  • 晶振故障单片机自动切换至系统内部时钟造成系统紊乱
    2024-01-12
    关于晶振故障单片机自动切换至系统内部时钟造成系统紊乱问题,晶诺威科技解释如下: 一、 问题描述 在单片机系统中,使用晶振是为了提供稳定的时钟信号,以保证系统的正常运行。通常情况下,单片机会使用外部晶振作为时钟源。然而,外部晶振可能会出现故障,导致系统无法正常工作。为了避免这种情况下系统的瘫痪,我们需…
  • 32.768KHz晶振负载电容CL=6pF指的是晶振两端各接一个6pF电容吗?
    2024-01-11
    32.768KHz晶振负载电容CL=6pF指的是晶振两端各接一个6pF电容吗? 答:不是。当32.768KHz晶振的负载电容CL为6pF时,建议外接电容C1=C2=9pF。 晶诺威科技解释如下: 关于无源晶振的外接电容具体数值,请以时间实际快慢程度为准来调节。若时间快,请增大外接电容;若时间慢,请减…
  • 什么是高精度晶振?高精度晶振如何选择?
    2024-01-09
    关于高精度晶振相关知识,晶诺威科技解释如下: 频率的变化量经常用ppm/ppb表示晶体频率会偏离标称频率多少。该值越小精度越高。晶振的频率误差是晶振重要参数之一。 调整频差 在25℃基准温度下,工作频率相对于标称频率所允许的偏差。 在石英晶体谐振器的规格书中,我们常看到调整频差用±30ppm max…
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